电子元器件高低温试验箱
一、电子元器件高低温试验箱性能:
指气冷式在室温20℃,空载时
规格型号:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容量:
80升内箱尺寸(宽*高*深):400X500X400mm
150升内箱尺寸(宽*高*深):500X600X500mm
225升内箱尺寸(宽*高*深):600X750X500mm
408升内箱尺寸(宽*高*深):600X850X800mm
800升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X800mm
1000升内箱尺寸(宽*高*深):1000X1000X1000mm
温度范围:
A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,
D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃
温度精度:±0.01℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度:±2.0℃
湿度范围:20%RH~98%RH
湿度精度:±0.1%R.H
湿度波动度:±2.0%R.H.
湿度均匀度:±3%R.H.
升温速率:平均3℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃升至+85℃约20min);可按要求定制非标规格
降温速度:平均1℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃降至-40℃约65min);可按要求定制非标规格
二、电子元器件高低温试验箱特点:
1.具有极宽的温度控制范围从-70到+150℃温区选用,可满足用户的各种需要。
2.采用*的平衡调温方式,可调节理想的温度环境,具有稳定平衡式加热能力,可进行高精度、高稳定的温度控制。
3.温度控制采用进口程序控制型仪表。
4.本试验箱具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的机能,操作简单。
5.试验箱内温度设定采用键盘设定器,使设定简单易行,仪表具有偏差修正功能,经过调整可获得更为准确的试验条件。
6.试验箱大门装有带灯观察窗,可方便地观察试样品的试验状态。
7.具有高温开机功能,能在箱内温度130℃时开启冷机快速降温,用户可方便连续地进行高温、低温循环试验。
8.制冷系统中采用冷却的冷凝方式,使用进口全封闭压缩机。